Os dispositivos de semicondutores de energia são os principais dispositivos de conversão de energia, tanto MOSFET quanto IGBT, que são responsáveis pelo ajuste de energia. A perda do dispositivo de energia em si é um fator importante que afeta a eficiência geral da fonte de alimentação, e a alta perda fará com que o dispositivo aqueça e possa afetar a vida útil. Osciloscópios geralmente usam um método momentâneo de integração de energia para medir a forma de onda da perda de um dispositivo de energia. OSCS DA RIGOL SUPORTA TESTE DE ENERGIA, COM DIFERENCIAIS DE ALTA TENSÃO E SONDAS ATUAIS PARA ATENDER A UMA AMPLA GAMA DE NECESSIDADES DE TESTE. A versão para PC do software UltraPowerAnalysis lhe permite exportar dados de teste, completar testes em linha e fora de linha de vários parâmetros e gerar relatórios.

A fim de melhorar a eficiência da fonte de alimentação, a fonte de energia alternada é usada principalmente para ajustar o fator de potência do circuito FPC, o pulso de acionamento do portão ajustável. Em sistemas de acionamento de freqüência variável, os pulsos de acionamento bipolar PWM também precisam ser simulados, testados e validados. Os vários geradores de forma de onda arbitrária da RIGOL podem produzir uma variedade de sinais de modulação com largura de pulso, e quando a saída de dois canais é completamente isolada entre os canais, ela é particularmente adequada para a geração analógica de vários tipos de sinais de acionamento. A função de mapeamento de tendências de medição do osciloscópio pode analisar a lei de mudança do sinal modulado.